| 短片: 看下测量表面是如何的简便吧 |
相册: 看下微纳米的世界是什么样的吧！ |
用途广泛 无论样品表面光滑还是粗糙，暗淡还是反光；即使是透明的样品，用户都可以在研发和生产过程中用MicroSpy® Profile来获得样品表面的各种数据。
功能强大
服务卓越 FRT的专家们着力于为您量身定做最适合您的测量任务与系统配置。我们在表面测量行业中已累计了14年的宝贵经验，并将此经验秘诀灌注于每个表面测量和样品涂层分析的案例中。期待能为您提供高标准的测量服务。
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操作简便 新式MicroSpy® Profile安装了光学点式传感器来测量样品表面形貌，并且附带了CCD-摄像机可以给用户提供量测软件在样品定位过程中的预览影像。
Mark III 是一个行业认可的软件包，专为3D表面数据分析所设计。它能提供演示、分析和报告等多种数据文档和2D剖面、3D形貌的映像图。运用各种测量方式分析样品表面，遵照国际通用标准，如DIN, ISO, SEMI, ASTM 或 JIS，MarkIII即可完成您的各种测量任务，并且归总所有报告打印在纸上或者生成于PDF文档中。
成本节约 FRT 将MicroSpy® Profile 设计成了一个功能强大且成本效益显著的测量仪器，拥有夺人眼球的价格以及超低成本的后期费用，大大降低了培训费、售后服务费以及零配件磨损的替换等费用。它小巧的身形可完美的融合于任何实验室以及生产车间。 查看信息
联系方式 亚太地区 欧洲 |
MicroSpy® Profile安装了机械式X,Y轴，测量范围是50 mm x 50 mm.传感器方位的控制由高精度手动式机械臂执行。FRT全方位传感器系列的一员——光学点式传感器可提供高度测量范围从300 µm 至 3 mm和垂直解析度达3nm的测量范围。
致力于为您寻找最佳的测量解决方案，FRT的专家们不遗余力的为您提供多个测量系统，结合长达13年多的表面测量和分析经验，自信能为您做的更好。
立刻联系我们，我们期待与您会面。
由于为用户提供了预览影像和超强功能的FRT Mark III表面测量分析软件，您在设立测量区域时，仅用鼠标点击即可完成。
